MLCC產品容值偏低現象成因与应对

原文链接：http://www.mlcc.com.cn/xuanxing/20121208/45.html   
针对经常有客户问及容值偏低的问题，本文从仪器差异、测试环境、测试条件、材料老化等方面对此作出完整之说明及解释,以期对MLCC产品容值偏低现象有进一步的认识。

1、量测仪器差异对量测结果之影响.
  高容量的电容量测时更易有容值偏低现象，主要原因是电容两端之实际施于电压无法达到测试条件需求所致，也就是说加在电容两端的电压由于仪器本身内部阻抗分压的原因与仪器显示的设定电压不同。为使量测结果误差降至*低,建议客戶将仪器調校並將儀器的设定电压与实际在产品两端所测之电压尽量调整,使实际于待测物上之輸出电压一致.
2、测试条件对量测结果之影响
首先考虑量测条件的问题。对于不同容值的电容会采用不同的条件来量测其容值。主要在电压设定和测试频率设定上有差異，不同容值的量测条件如下表所示:

电容	AC 电压	频率
C>10μF	1.0± 0.2Vrms	120Hz
1000pF<C≦10μF	1.0± 0.2Vrms	1kHz
C≦ 1000pF	1.0± 0.2Vrms	1MHz

 
注： 表中所列之电压是指实际加在电容两端的有效电压。
因仪器的原因，电容两端实际的輸出电压与设定的量测电压实际上可能会有所偏差。
3、影响高容量测之因素
3.1 仪器內部阻抗之大小因素.
由于不同测试仪器之间的內部阻抗不相同，造成仪器将总电压分压而使到达测试物的实际电压变小。在实际的测试动作中，我们可以使用万用表等测试夹具两端的实际电压，以验证实际施于测试物的輸出电压。
3.2不同阻抗的测试仪器对比
仪器内阻100Ω压降
1V*[100Ω/(100Ω+16Ω)]=0.86V
10uF测试电容两端电压 ：
1V*[16Ω/(100Ω+16Ω)]=0.14V
平均电容值读数 ： 6-7μF

                     仪器内阻
                                   电容


仪器内阻1.5Ω压降 ：
1V*[1.5Ω/(1.5Ω+16Ω)]=0.086V
10uF测试电容两端电压  ：
1V*[16Ω/(1.5Ω+16Ω)]=0.914V
平均电容值读数  ： 9-10μF

综合以上实验，可以得到有效电压与电容量的关系如下：